JXA-iHP200F場發(fā)射電子探針顯微分析儀

電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域，作為研究開發(fā)和的分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ，地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn)。與此相應(yīng)，在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡單快速地使用好儀器。

JXA-iHP200F能更加有效地進(jìn)行觀察分析操作，是更優(yōu)良的一體化集成場發(fā)射EPMA。

      *  EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱

JXA-iHP200F場發(fā)射電子探針顯微分析儀

主要特點(diǎn)                                                                                                                                              

1.   [Setting]                                                

自動(dòng)定位，準(zhǔn)確安裝樣品臺！迅速找到想觀察的點(diǎn)！

進(jìn)樣和獲取樣品臺導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠指定分析區(qū)域。

2.   [Analysis]                                            

充分的自動(dòng)功能，誰都可以拍到高級的SEM像！

繁瑣的設(shè)定也能對應(yīng)，EPMA立馬進(jìn)行元素分析！

光學(xué)顯微鏡的自動(dòng)聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動(dòng)功能相結(jié)合，任誰都可以拍到高級的SEM像。

通過【live Analysis】能夠在觀察中進(jìn)行篩選分析。初學(xué)者也能操作的【簡單的EPMA】。

用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進(jìn)行EPMA的條件設(shè)定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時(shí)間。

SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。

通過WD/ED integration，分析時(shí)間縮短的例子

integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合

3.   [Self Maintenance]                    

*  內(nèi)置18種類校正樣品，有效進(jìn)行校正！

*  配置【分光器校正功能】減輕了定期進(jìn)行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時(shí)的人為失誤；利用夜間對儀器進(jìn)行校正，提高了工作效率。

*  按照【維護(hù)通知功能】，在必要時(shí)期對儀器進(jìn)行自我維護(hù)，保持設(shè)備優(yōu)良狀態(tài)。

維護(hù)通知功能【客戶支持工具】

4.   標(biāo)配場發(fā)射電子槍

能夠在高倍率下獲得高空間分辨率的SEM像和分析結(jié)果。 在大電流下保持長時(shí)間穩(wěn)定的熱電子槍, 在短時(shí)間內(nèi)分析微量元素及整夜運(yùn)行分析大量樣品的時(shí)候，顯示出它的威力。