高保真信號生成，精準復現(xiàn)每一細節(jié)

SDG3000X采用創(chuàng)新的EasyPulse和TrueArb技術，重新定義了信號生成的精度標準。TrueArb技術支持逐點輸出任意波形，采樣率覆蓋10mSa/s~600MSa/s，在確保波形細節(jié)完整的同時，實現(xiàn)抖動低至150ps、總諧波失真低于0.075%的高保真信號輸出。

高精度脈沖生成，靈活調節(jié)邊沿脈寬

EasyPulse技術則專為脈沖信號優(yōu)化，可生成最小脈寬8ns、占空比極小、上升/下降沿快速且不受頻率影響的脈沖波形，支持邊沿和脈寬大范圍精細調節(jié)，SDG3000X是生成高精度脈沖信號的理想設備。

40Mpts/ch任意波長度，復現(xiàn)信號

SDG3000X內置196種任意波形，40Mpts/ch大容量波形存儲器可完整存儲并高精度復現(xiàn)復雜信號細節(jié)，結合靈活的序列播放功能，輕松設置各段波形循環(huán)次數(shù)及波形播放順序，滿足多樣化的測試需求。

靈活信號生成，覆蓋復雜測試需求

SDG3000X支持120Mbps PRBS碼型輸出，并可在250~50MSymb/s符號速率范圍內生成優(yōu)異EVM性能的基帶或中頻IQ信號，及多種調制功能（AM/DSB-SC/FM/PM/FSK/ASK/PSK/PWM）。結合Sweep和Burst功能，SDG3000X輕松應對從科研教育到功率器件測試的全場景挑戰(zhàn)。

雙脈沖測試方案，助力半導體測試

雙脈沖測試是半導體功率器件動態(tài)特性分析的關鍵方法，用于評估開關損耗、導通特性等核心參數(shù)。結合通道跟蹤與相位同步技術，SDG3000X支持精確控制脈沖寬度與間隔，適配IGBT、SiC MOSFET等器件的多場景測試需求。通過USB/LAN遠程控制及示波器聯(lián)動功能，SDG3000X助力用戶快速構建自動化測試系統(tǒng)，提升測試效率與數(shù)據(jù)可靠性。

智能交互體驗，操作更高效便捷

SDG3000X配備7英寸觸摸屏，支持直觀的參數(shù)設置與信號查看，簡化操作過程，并支持MATLAB、Python腳本導入及示波器聯(lián)動進行自動校準。內置硬件高精度頻率計，配備LAN、USB、GPIB等多種通信接口及內建WebServer，SDG3000X實現(xiàn)多設備級聯(lián)同步與遠程控制，全面提升測試效率與操作便捷性。